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浙江创芯申请半导体器件电阻测试装置及其测试方法专利,有效消除设备内阻干扰

放大字体  缩小字体    发布日期:2025-01-16  来源:  

金融界2025年1月15日消息,国家知识产权局信息显示,浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“一种半导体器件的电阻测试装置及其测试方法”的专利,公开号CN 119291304 A,申请日期为2024年12月。

专利摘要显示,本发明公开一种半导体器件的电阻测试装置及其测试方法。本发明通过巧妙地串联类似的测试键和电阻结构,引入一个与有源区电阻相同的电阻作为第二电阻,采用相同的测试步骤,然后精确计算设备内阻和真实电阻值,能够有效地消除设备内阻的干扰,获得准确的电阻测试结果。同时测试设备的内阻值在整个测试过程中展现出较高的稳定性,波动极小。稳定的设备内阻使得在计算设备内阻并对测试电阻值进行校正时,能够获得高度准确和可靠的结果。

天眼查资料显示,浙江创芯集成电路有限公司,成立于2020年,位于杭州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本182000万人民币,实缴资本134000万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目243次,知识产权方面有商标信息12条,专利信息172条,此外企业还拥有行政许可4个。 

 
 
 
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